雅马哈3D AOI YSI-V

优异混合光学外观检查装置

高速、高分辨率2维检查

1200万像素的高分辨率成像
高速、高分辨率2维检查 高度、倾斜面3维检查 (选配)
电子元件表面贴装系统
一次性高速测量整个视野内的高度。对于受翘件、
基板与元件的颜色相似、或丝印及焊盘的干扰等影
响在2维图像中难以检出的不佳，也能够准确检出。
此外，还可以检出对象物的倾斜度与方向，准确判
定形状是否正确。
可选择5种不同的方法实现
检查
提取特定的颜色
(提取漏铜的实例)
色度
通过亮度提取特定部
位(如：通过文字识别
检查元件的
极性、错件、
缺件等)
亮度
利用红外线的穿透特性，
提取白色基板上的白色
元件。
红外线
提取倾斜的部分坡度
检查实际的物理高度